第72回 午前 問98

放射線施設における表面汚染検査の測定方法や判定基準は、JIS Z 4504等の規格に規定されている。

• 1. 誤った記述：間接測定法(スミア法)は拭き取りによるため、遊離性汚染の検出に適する。
• 2. 誤った記述：直接測定法は表面全体の汚染検出に用いられるが、遊離性汚染の検出には間接法がより適する。
• 3. 【正答】 正しい記述：表面汚染の測定方法はJIS規格に規定されている。
• 4. 誤った記述：表面密度限度以下であっても、管理区域外への持ち出しには法令上の別途の確認手続きが必要である。
• 5. 誤った記述：α線放出核種の表面密度限度は4Bq/cm2であり、40Bq/cm2はα線以外の核種の限度である。