第72回 午前 問80

半価層測定は、X線強度が初期値の半分になる吸収体（通常アルミニウムなど）の厚さを求める測定であり、検出器には方向依存性の少ない小型の空気電離箱を用いる。

• 1. × 吸収体として鉛を用いる。診断用X線の半価層測定ではアルミニウムなどが用いられ、鉛は用いない。
• 2. ○ 小型の空気電離箱を用いる。半価層測定の検出器として適切である。
• 3. × 吸収体と検出器を密着させる。密着させると散乱線を検出器が拾い正確な測定ができないため、両者間に距離を置く必要がある。
• 4. × 純度50％以上の吸収体を用いる。半価層測定には高純度（一般に99％以上）の吸収体を用いる必要がある。
• 5. × 照射野を吸収体の大きさに合わせる。散乱線混入を避けるため照射野は絞り込む必要があり、吸収体全体に合わせるのは不適切である。