第75回 午前 問79

GM計数管によるβ線測定における後方散乱係数は、試料台の厚さ・物質の原子番号（組成）、β線のエネルギー、測定幾何学的配置（GM計数管と試料台との距離）に依存する物理量である。一方、測定時間は計数の統計的精度に関わる要素であり、後方散乱という物理現象そのものには影響しない。

• 1. ○ 測定時間は計数の統計誤差に関わるのみで、後方散乱係数という物理現象には影響しない。
• 2. × 試料台の厚さは後方散乱される電子の量に影響し、後方散乱係数を左右する要因である。
• 3. × β線のエネルギーは物質中での散乱挙動に影響し、後方散乱係数を左右する要因である。
• 4. × 試料台の物質の組成（原子番号）は後方散乱の程度に影響し、後方散乱係数を左右する要因である。
• 5. × GM計数管と試料台との距離は検出される散乱線の幾何学的効率に影響し得る要因である。